Renishaw坐标测量机扫描测头
Renishaw的扫描测头系列产品均为无源传感器，具有轻巧的机构和分离的光学测量系统，能够进行快速精确的扫描测量。
扫描测头是每秒可采集数百个表面测量点的微型测量机。坐标测量机软件可以利用这些数据提供被测工件形状、尺寸及位置的相关信息。扫描测头也可用于采集离散点，与触发式测头类似。
Renishaw扫描测头独具特色的轻巧无源机构（无马达或锁定机构），具有高固有频率，适合高速扫描测量。分离的光学测量系统直接（无需通过测头机构中的叠加轴）测量探针的变形量，以获得更高的精度和更快的动态响应。Renishaw提供了一系列解决方案，供各种尺寸和配置的坐标测量机选用。。  扫描测量提供了从棱柱形工件或其它复杂工件上高速采集形状和轮廓数据的方法。
触发式测头可采集表面离散点，而扫描系统则可获取大量的表面数据，提供更详细的工件形状信息。因此，在实际应用中如果工件形状是整个误差预算的重要考量因素或必须对复杂表面进行检测，扫描测量可谓理想之选。
要实现这一功能，就需要一个包括传感器设计、机器控制及数据分析在内的全新方案。
扫描系统如何采集并分析表面数据？
扫描测头提供连续的偏移量输出，与机器位置相结合，从而获得表面位置数据。进行扫描测量时，测头测尖开始与工件接触，然后沿工件表面移动，采集测量数据。在整个测量过程中，须将测头探针的偏移量保持在测头的测量范围内。
要想取得最佳测量结果，需要传感器与机器控制紧密集成，以及先进的滤波运算，以将合成数据转换为可用的表面信息。扫描驱动算适用于工件轮廓测量，改变扫描速度使之匹配曲率的变化（表面越平，速度越快），然后调整数据采集速率（表面变化越快，采集的数据越多）。
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